Upgrade-Möglichkeit sichert Investitionen
Lecroy hat in den vergangenen zehn Monaten seine komplette Modellpalette an Echtzeit- Oszilloskopen mit neuen Modellreihen ersetzt. „Als Resultat können wir nun digitale Echtzeit-Oszilloskope von 60 MHz bis 30 GHz analoger Bandbreite anbieten“, so Guido Wolf, Marketing Manager Emea bei Lecroy. Angefangen hat alles mit dem Wave-Pro (1,5 GHz – 6 GHz), gefolgt von Wave-Ace (60 MHz – 300 MHz), Wave-Master (4 GHz – 30 GHz), Wave-Runner (400 MHz – 2 GHz), Wave-Surfer (200 MHz – 1 GHz), und zum April ist die neue Wave-Jet-Modellreihe (100 MHz – 500 MHz) angekündigt.
Die Modelle der im Januar auf den Markt gebrachte Wave-Master 8-Zi-Serie gehören zu den derzeit leistungsstärksten Oszilloskopen auf dem Markt. Die Auswahl der analogen Bandbreite reicht von 4 GHz bis 30 GHz. Eine Besonderheit ist das Upgrade-Programm für diese Serie, es erlaubt den Einstieg bei 4 GHz, mit späterer Aufrüstung auf 8 GHz, 13 GHz, 16 GHz, 20 GHz, 25 GHz oder 30 GHz. „Die Lecroy 8-Zi-Serie wurde als eine Hardware Plattform entwickelt, die die komplette Spanne von 4 GHz bis 30 GHz Bandbreite abdeckt. Das bedeutet, dass Firmen die angeschafften Oszilloskope und das gebundene Kapital längerfristig nutzen können und an die sich ständig weiterentwickelten Technologien und Anforderungen anpassen“, erklärt Wolf und weiter: „Man kauft heute die notwendige Bandbreite und kann diese dann schrittweise aufrüsten. Dies ist besonders in finanziell angespannten Perioden von großem Vorteil, in denen Firmen ihre Investitionen minimieren.“
Als weitere wichtige Neuheit wurde im Februar die neue Generation Wave-Runner Xi-A vorgestellt, das Volumenmodell von Lecroy im Bandbreitenbereich von 400 MHz bis 2 GHz. Die Wave-Runner Xi-A-Modelle verfügen über 10 GS/s Abtastrate und 25 MPunkte serienmäßigen Speicher. Die Modelle setzen die neue X-Stream-II-Hardware-Architektur ein, mit deren Hilfe laut Hersteller die Erfassungs- und Anzeigegeschwindigkeit deutlich erhöht wird, sowie Triggerscan, eine Technologie zur Erfassung sehr selten auftretender Ereignisse und zur Verbesserung der Fehlersuche und Analyse.