Testlösung für Super-Speed-USB-Messungen
Die Komplettlösung von Tektronix ermöglicht Debugging- und Konformitätsprüfungen der physikalischen Schicht von USB 3.0.
Tektronix hat die Markeinführung eines umfassenden Messsystems für Charakterisierungen, Debuggingtests und automatisierte Konformitätsprüfungen von Superspeed-USB-Systemen (USB 3.0) bekannt gegeben. Die Option USB-TX für das DPO/DSA70000B-Oszilloskop erlaubt eine automatisierte Validierung von USB-3.0-Signalgebern auf Knopfdruck. Begleitend bietet Tektronix ein Komplettsystem von Messkomponenten für USB-3.0-Tests an, mit denen die Genauigkeit von Signalgeber-, Signalempfänger- und Leitungstests werden kann.
Durch den ständig wachsenden Bedarf nach höheren Übertragungsgeschwindigkeiten ist die bis zu zehnfache Erhöhung der Datenrate von USB 3.0 im Vergleich zu derzeitigen USB-Lösungen entstanden. Das kann zu Problemen bei der Signalübertragung und -güte führen, für deren Lösung sehr genaue und vielseitige Testlösungen erforderlich sind. USB-TX unterstüzt auch normative und informative Tests wie Spread Spectrum Clocking (SSC), Anstiegszeit und Spannungspegel.
