Yokogawa präsentiert neue Mixed-Signal-Oszilloskope
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Fehlersuche in Embedded-Systemen
Durch die Kombination von 32 Logikkanälen mit vier Analogkanälen hoher Bandbreite eignen sich die Mixed-Signal-Modelle besonders für Tests und Fehlersuche in Embedded-Systemen, wobei die Windows-Fähigkeit und eine Reihe von Software-Treibern die Integration in automatische Testsysteme erleichtern.
Die Logikanalyse umfasst die Darstellung der digitalen Signalzustände, einen „irtuellen D/A-Wandler“ zur Darstellung der entsprechenden analogen Signalform sowie Bus-Bundle- und Zeichendekodierungsmöglichkeiten. Anders als andere Mixed-Signal-Oszilloskope tastet das DLM6000 Logikkanäle und Analogkanäle simultan ab, und zwar mit derselben maximalen Geschwindigkeit.
Die Geräte zeichnen sich durch hohe Akquisitionsraten und kurze Reaktionszeiten aus. Sie bieten eine Auffrischrate von bis zu 25.000 Kurven pro Sekunde, einen History-Speicher für effiziente Kurvenbeobachtungen und -analysen sowie hilfreiche Zoom- und Search-Funktionen.
Die History-Funktion erlaubt das nachträgliche Aufrufen von Signalen, die dem Inhalt von 2000 Bildschirmdarstellungen entsprechen. Die Möglichkeit, Ereignisse zurückverfolgen zu können, ist vor allem für die Fehlersuche vorteilhaft.
- Yokogawa präsentiert neue Mixed-Signal-Oszilloskope
- Fehlersuche in Embedded-Systemen
- Durchsuchen des History-Speichers
