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Neuer NI Compact-DAQ-Controller

NI vereinfacht Mess-Systeme

12. Mai 2015, 13:42 Uhr | Quelle: National Instruments

NI Compact-DAQ-Controller

National Instruments trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung technischer Herausforderungen bei. Das Unternehmen stellt den neuen "CompactDAQ-Controller" mit acht Steckplätzen vor und erweitert so das Angebot an Compact-DAQ-Controllern für Anwendungen mit hoher Kanalanzahl in rauen Umgebungen.

Durch Integration von Prozessor, Signalkonditionierung und I/O in ein einziges Compact-DAQ-System können Anwender die Gesamtkosten und Komplexität von Systemen reduzieren und zugleich die Messgenauigkeit erhöhen. Integrierte Messsysteme verringern die Zahl der erforderlichen Komponenten, Verbindungen und Verkabelung, die häufig zu Rauschen führen und zusätzliche Kosten verursachen. So lassen sich kostenoptimierte Systeme auf Basis hochpräziser Messtechnik erstellen.

Sowohl die Controller mit vier als auch mit acht Steckplätzen verfügen über einen Intel Atom Dual-Core-Prozessor, der Windows Embedded 7 oder NI Linux Real-Time unterstützt. Durch diese standardisierten Betriebssysteme lässt sich in Kombination mit der Systemdesignsoftware "LabVIEW" bestehender Programmcode mühelos von vorhandenen Messsystemen auf die neuen Controller übertragen. "LabVIEW" kann mit mehr als 60 sensorspezifischen I/O-Modulen für CompactDAQ kombiniert werden. Damit können Datenerfassungssysteme schnell benutzerdefiniert angepasst und so die Anwendungsanforderungen erfüllt werden.

"Wir haben die Compact-DAQ-Produktfamilie um einen Controller mit acht Steckplätzen erweitert, um unseren Kunden eine weitere robuste und integrierte Lösung an die Hand zu geben", erklärt Stefanie Breyer, Director of Data Acquisition R&D bei NI. „Der Intel Atom Prozessor E3800 bietet Anwendern eine leistungsstarke Plattform, die zusammen mit hochpräziser Messtechnik in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden kann – von der Datenprotokollierung im Fahrzeug (In-Vehicle-Data-Logging) bis hin zu verteilten Messungen."