Tektronix kommt mit Testsystem für Super-Speed-USB

10. November 2008, 0:00 Uhr | funkschau sammeluser

Tektronix hat die Markeinführung eines umfassenden Testsystems für die USB 3.0-Spezifikation angekündigt.

Laut des Spezialisten für Test-, Mess- und Monitoringtechnik werden damit vollständige Test der physikalischen Schicht ermöglicht.Tektronix-Kunden sollen damit im Bereich der Hochgeschwindigkeitsübertragung von seriellen Daten schnell ihrer Super-Speed-USB-Entwürfe überprüfen können. Die Testlösung für USB 3.0 von Tektronix hat folgende Bestandteile: ein Oszilloskop DSA71254 mit 12 GHz oder mehr Bandbreite für Signalgebertests, DPOJET mit Setup-Dateien für USB 3.0 und Emulation des Sendekanals für Überprüfung und Debugging, Echtzeit-SDLA-Software (Serial Data Link Analysis) für die Emulation des Sendekanals, AWG7102 mit Signalempfänger-Testmusters und Emulation des Empfangskanals für Signalempfängertests sowie Sampling-Oszilloskop DSA8200 und iConnect-Software für das Testen von Übertragungswegen. Alle Bestandteile des Tektronix-Testsystems USB 3.0 können ab sofort bestellt werden und sind lieferbar.


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