Die kürzere Produktlebensdauer und höhere Komplexität heutiger Geräte schreibt mittlerweile Testsystem-Entwicklungszyklen von Wochen anstelle von Monaten vor. PXI Maestro setzt laut Hersteller neue Maßstäbe bei der schnellen Integration von Non-Signaling-Mode HF-Testsystemen und der Testdurchführung.
PXI Maestro kann mithilfe eines neuen Multiway-Aktiv-HF-Kombinierer-moduls gleichzeitig mehrere Geräte testen. Das Modul unterstützt den Anschluss von bis zu vier Geräten pro Kanal. Im Vergleich zu äquivalenten seriellen Testmethoden ergibt sich damit ein fast vier Mal besserer Durchsatz pro Funkverbindung – und das zu gleichen Kosten.
PXI Maestro ist auf hohe Geschwindigkeit ausgelegt – unabhängig davon, ob ein einzelnes Gerät oder mehrere Geräte gleichzeitig getestet werden. Entscheidend bei der Effizienz von HF-Testsystemen ist nicht nur die reine Testgeschwindigkeit, sondern auch die optimale Ausnutzung der Testgeräte. Die effiziente Entwicklung von Testsystemen minimiert die Leerlaufzeit von Geräten während den Messungen. PXI Maestro bietet einen Multi-threaded Sequenzer, um die Vorteile moderner Multi-Core-PCs zu nutzen. Damit lassen sich verschiedene Aufgaben innerhalb eines Messschritts und über eine Messreihe hinweg kombinieren oder gleichzeitig anstatt nacheinander ausführen, wie es bei früheren Testsystemen der Fall war. Mehrere Threads sorgen dabei für die Gerätesteuerung, das Setup der Testeinrichtung und die Messdatenverarbeitung – und das zeitlich eng gekoppelt. Werden mehrere unterschiedliche Messungen unter den gleichen Testbedingungen durchgeführt, spart PXI Maestro Zeit und führt diese Messungen parallel mit den gleichen erfassten Daten durch.
PXI Maestro ist eine Erweiterung der bestehenden Aeroflex PXI-3000-Messeinrichtungen für GSM/EDGE, WCDMA, LTE FDD und WLAN. Sie unterstützt die direkte Ansteuerung führender Mobilfunk-Chipsets.