Bisher wurden Methoden beschrieben, die Beschädigungen von Testgeräten durch übermäßige, dauerhaft zugeführte HF-Leis-tung vermeiden. Jeder qualifizierte Techniker in diesem Bereich weiß aber, dass elektrostatische Entladungen zu Schäden am Testgerät führen können. Ein Schutz gegen ESD ist daher unerlässlich.
ESD ist ein ziemlich unvorhersehbares Ereignis. Die Menge an statischer Elektrizität in einem System hängt vom Material ab, aus dem es besteht, sowie von der Luftfeuchtigkeit in der Umgebung. Selbst die Körpergröße des Anwenders beeinflusst die Ansammlung statischer Elektrizität. Die Leis-tungsfähigkeit von ESD-Schutzbausteinen wie TVS-Dioden (Transient Voltage Suppression) hat sich in den letzten Jahren erheblich verbessert. Verwendet man allerdings keine Schutzvorrichtung, wird das Gerät mit hoher Wahrscheinlichkeit beschädigt.
Anstatt sich auf die Schutzvorrichtungen in einem Instrument zu verlassen, ist es sicherer, ESD-Entladungen von vornherein zu verhindern. Dies ist einfach eine Frage der Disziplin, wobei die Richtlinien zur Handhabung elektronischer Systeme einzuhalten sind. Die Schäden durch ESD können heimtückischer sein als durch übermäßige HF-Leistung. Die bei einer ESD-Entladung erzeugte Spannung kann bis zu zwei kV erreichen. Empfindliche Bauteile wie „MOSFETs“ (Metall-Oxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren) sind allerdings nur für eine Durchbruchspannung von wenigen Hundert Volt ausgelegt.
Die Energie eines ESD-Einschlags wird innerhalb von Nanosekunden abgebaut. Der Schaden an einem Bauteil tritt daher sehr schnell auf, ist aber weniger ersichtlich als der weitreichende Schaden (Verkohlung) durch eine langfristig einwirkende, übermäßige HF-Leistung. Nach einem ESD-Einschlag zeigt sich eine Verfärbung.