National Instruments mit neuer Lösung

Produktionsprüfung von Mobilfunkgeräten

5. August 2015, 14:12 Uhr | Diana Künstler, funkschau (Quelle: National Instruments)

Fortsetzung des Artikels von Teil 1

Sämtliche drahtlosten Standards werden abgedeckt

"Wir sind in der Lage, mit dem NI Wireless Test System sämtliche drahtlosen Standards, von Bluetooth über WLAN bis hin zu GPS und Mobilfunk, mit ein und demselben Gerät zu testen", erklärt Markus Krauss, Harman/Becker Automotive Systems . "Das WTS sowie das Know-how von Noffz auf dem Gebiet der HF-Testsysteme haben es uns ermöglicht, die Testzeit sowie die Einrichtungs- und Inbetriebnahmezeit unserer Testsysteme deutlich zu reduzieren."

Das WTS ist das neueste System von NI, das auf der PXI-Hardwareplattform und der Software "LabVIEW" sowie "TestStand" basiert (vergleichbar mit dem Semiconductor Test System, das 2014 auf den Markt gebracht wurde). Es unterstützt Funkstandards von LTE-Advanced über 802.11ac bis hin zu Bluetooth-Low-Energy und ist für Produktionstests von WLAN-Access-Points, Mobilfunkgeräten und Infotainment-Systemen sowie für Produktionstests aller möglichen anderen Geräte ausgelegt, in die zum Beispiel Mobilfunk-, WLAN- oder Navigationsfunktionen integriert sind. Die im WTS verwendete SDR-Technologie des PXI-Vektorsignal-Transceivers ermöglicht bessere RF-Leistungsmerkmale bei Produktionstests und schafft eine Plattform, die flexibel an die wechselnden Anforderungen an RF-Tests angepasst werden kann.

 Weitere Informationen zum neuen Wireless Test System bietet die Website ni.com/wts.

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