National Instruments mit neuer Lösung

Produktionsprüfung von Mobilfunkgeräten

5. August 2015, 14:12 Uhr | Diana Künstler, funkschau (Quelle: National Instruments)
NI Wireless Test System
© National Instruments

National Instruments trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. Das Unternehmen stellt das "Wireless Test System" (WTS) vor, eine Lösung, mit der die Kosten für Produktionstests von Mobilfunkgeräten in der Großserienfertigung gesenkt werden.

Trotz zunehmender Komplexität der Tests von Mobilfunkgeräten können Unternehmen die Testkosten ohne Weiteres reduzieren und den Durchsatz in der Produktion vervielfachen. Dies wird durch den Einsatz von Systemen möglich, die für Messgeschwindigkeit und paralleles Testen optimiert sind.

"Megatrends wie das Internet der Dinge (Internet-of-Things, IoT) werden dazu führen, dass in mehr und mehr Geräten RF- und Sensorfunktionalität enthalten sein wird, deren Test bisher kostenaufwendig war. Doch die Testkosten sollten nicht die Innovationen oder die Wirtschaftlichkeit eines Produkts begrenzen", erklärt Olga Shapiro, Program Manager for Measurement and Instrumentation bei Frost & Sullivan. "Um in Zukunft profitabel zu bleiben, werden Unternehmen ihre bisherigen Vorgehensweisen überdenken und für völlig neue Ansätze im Bereich Mobilfunktest offen sein müssen. Da das WTS auf der bewährten PXI-Plattform basiert und auf der guten Kenntnis des Marktes von NI beruht, erwarten wir, dass es einen deutlichen Einfluss auf die Profitabilität des IoT haben wird."

Auf Basis der neuesten Hardwareentwicklungen der PXI-Plattform bietet das WTS eine durchgängige Plattform für das Testen mehrerer Standards und mehrerer Prüflinge mit jeweils einem oder mehreren Anschlüssen. Zusammen mit flexibler Software zur Entwicklung von Testplänen wie dem "TestStand Wireless Test Module" können Hersteller die Auslastung ihrer Messgeräte wesentlich verbessern, indem sie mehrere Prüflinge parallel testen. Wegen seiner integrierten Ansteuerung der Prüflinge, den Mechanismen zur dezentralen Automatisierung sowie fertiger Testpläne für Chipsätze von Herstellern wie Qualcomm und Broadcom lässt sich das WTS einfach in eine Fertigungslinie integrieren. Aufgrund dieser Besonderheiten verzeichnen Anwender beträchtliche Effizienzsteigerungen bei der Nutzung ihrer RF-Prüfgeräte und weitere Senkungen der Testkosten.

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