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Rückblick VIP 2015 mit Bildergalerie

Mit einer integrierten Plattform das "Industrial Internet of Things" gestalten

30. Oktober 2015, 14:32 Uhr | Diana Künstler, funkschau (Quelle: National Instruments)

VIP 2015

Vom 21. bis 23. Oktober 2015 veranstaltete NI den Technologie- und Anwenderkongress "Virtuelle Instrumente in der Praxis" (VIP). National Instruments präsentierte leistungstarke und flexible Systeme, um die Chancen des IIoT zu nutzen.

Die Veranstaltung fand im Veranstaltungsforum Fürstenfeldbruck bei München statt und feierte in diesem Jahr ihr 20-jähriges Jubiläum. Die Veranstalter konnten rund 700 Gäste begrüßen.Schwerpunktthemen des Kongresses waren unter anderem das IoT (Internet-of-Things) im kommerziellen (CIoT) und im industriellen (IIoT) Umfeld, die nächste Generation der Mobilfunkkommunikation (5G) und Big-Analog-Data.

Nach der Begrüßung der Teilnehmer durch Michael Dams, Director Sales Central and Eastern Europe, präsentierten Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director und Daniel Riedelbauch, Marketing Manager Central and Eastern Europe bei NI neue Technologien, Trends und Kundenlösungen. So wurde präsentiert, wie Jaguar Land Rover mehr Wissen aus Big-Analog-Data durch Unterstützung der Datamanagement Software "NI DIAdem" gewinnt.

Mit dem "NI Semiconductor Test System (STS)" zeigte NI ein PXI-basiertes Prüfsystem für den Halbleitertest, welche durch die Integration von "NI PXI"-Modulen und Testmanagement-Software die Prüfkosten für RF- und Mixed-Signal-Geräte im Halbleitersegment senkt. Ein weiteres Beispiel für ein Prüfsystem auf Basis von "NI PXI" ist das dieses Jahr neu präsentierte "Wireless Test System (WTS)". Dank schnellerer Messungen können die Fertigungskosten von Geräten wie Mobiltelefonen, Tablets und Infotainment-Systemen verringert werden. Das WTS unterstützt verschiedene Wireless-Standards, wie unter anderem LTE-A, WLAN (802.11ac) und Bluetooth LE. Peiker und Noffz Technologies präsentierten hierzu Ihre erfolgreiche Kundenlösung zum Thema "eCall".