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Messtechnik

Über das Testen von SFP+-Transceivern

30. Juli 2012, 10:40 Uhr | Dean Miles, Tektronix

Fortsetzung des Artikels von Teil 8

Testen des SFP+-Senders

In Abbildung 2 ist eine typische Testkonfiguration mit Prüfling und Quelle zu sehen, mit der die erforderlichen Signalstörungen erzeugt werden. In Verbindung mit den Tektronix-Oszilloskopen wird in der SFP-TX-Lösung ein Pull-Down-Menü angezeigt (siehe Abbildung 3), über das die einzelnen Messungen für die SFP+-Tests gemäß SFF-8431 ausgewählt werden können. Masken, Grenzwerte und Messparameter können automatisch konfiguriert werden. Darüber hinaus lassen sich bereits gewählte Messungen und Messkonfigurationen wieder ändern. Sobald der beste Messaufbau gefunden wurde und der Prüfling korrekt angeschlossen ist, muss der Benutzer zum Starten der Messungen lediglich die entsprechende Schaltfläche anklicken. In regelmäßigen Abständen wird der Benutzer von der SFP-TX-Lösung in Form von Meldungen aufgefordert, für den Prüfling einen anderen Testmodus zu wählen.

Am Ende des Testzyklus wird automatisch ein zusammenfassender Bericht im MHT-Format (bzw. MHTML-Format) erstellt, aus dem unter anderem hervorgeht, ob der Test als bestanden gilt oder nicht. Wie in Abbildung 4 zu erkennen, enthält der Bericht Informationen zur Testkonfiguration, Wellenformdiagramme und Grenzwertanalysen, was zusätzlichen Aufschluss über die Konstruktion gibt.